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名稱:高量程涂層測(cè)厚儀,0-15000um 涂層測(cè)厚儀,漆膜測(cè)厚儀(鍍層,覆層,濕膜,干膜)
8829H,是高量程的測(cè)厚儀,高可以達(dá)到15000um,因?yàn)榧优淞藢iT的探頭. CM系列涂層測(cè)厚儀,都可以加配H型高量程探頭,比如你產(chǎn)品的涂層很厚,6000um以上,就可以選購(gòu)這款探頭,這樣就可以檢測(cè)比較厚的膜厚樣品. 測(cè)量方法: F 磁感應(yīng) 測(cè)量范圍: 0-15000 um 分辨率: 0.1 um / 1 um 小曲面F: 凸 20 mm / 凹 30 mm 小測(cè)量面積: 16 mm 薄基底: 0.3 mm 準(zhǔn)確度: ±1-3%n 或 ± 2.5 um 單位: 公制,英制 聯(lián)系電話,021-6573 0171 |
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